Sim K., Kwon S.P., Tomone S., Yoshihiro N., Yoshikazu T., Masayuki O., Fumiaki T., Kazuyuki S., Yoshihiko N., Yukinobu M., Katsumi M.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, strands, critical caracteristics, critical current, degradation studies, heat treatment, deformation, microstructure
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.